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    掃描探針顯微鏡

    掃描探針顯微鏡(Scanning Probe Microscope,SPM)是掃描隧道顯微鏡及在掃描隧道顯微鏡的基礎上發展起來的各種新型探針顯微鏡(原子力顯微鏡,靜電力顯微鏡,磁力顯微鏡,掃描離子電導顯微鏡,掃描電化學顯微鏡等)的統稱,是國際上近年發展起來的表面分析儀器,是綜合運用光電子技術、激光技術、微弱信號檢測技術、精密機械設計和加工、自動控制技術、數字信號處理技術、應用光學技術、計算機高速采集和控制及高分辨圖形處理技術等現代科技成果的光、機、電一體化的高科技產品。
    SEM納米探針臺

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    SEM納米探針臺產品實現了三維空間上的準確定位, 它具有分辨率高,尺寸緊湊,行程大,操作簡單,能在真空下使用等優點,可應于SEM真空腔體內完成各種納米精度運動操作。 SEM納米探針臺產品使...
    低溫超高真空掃描隧道顯微鏡STM

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    低溫超高真空掃描隧道顯微鏡STM(Ultrascan LT-100) 掃描探針顯微鏡(STM)為代表的超高真空設備廣泛應用于科學研究中,主要進行對表面有關或者在表面發生的所有物理化學現象進行原子尺度的...
    掃描探針顯微鏡控制器

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    掃描探針顯微鏡控制器可以實現掃描探針顯微鏡針尖的自動逼近、樣品掃描、數據收集等功能,低信噪比,具備原子分辨率。 掃描探針顯微鏡控制器特征 1.粗進針控制模塊:手動進針,自動進針。輸...
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